Zobrazeno 1 - 10
of 117
pro vyhledávání: '"атомно-силова мікроскопія"'
Autor:
Daliev, Khodjakbar S.1, Utamuradova, Sharifa B.1, Khamdamov, Jonibek J.1 jonibek.uzmu@gmail.com, Bekmuratov, Mansur B.1, Norkulov, Shahriyor B.1, Yuldoshev, Ulugbek M.1
Publikováno v:
East European Journal of Physics. 2024, Issue 4, p240-249. 10p.
Розвиток методів скануючої зондової мікроскопії суттєво розширив можливості дослідження структури поверхні кристалів, плівок, мезост
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______1456::d785af5b5412451e21864e7aea4646a8
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/27911
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/27911
Publikováno v:
Вісник Черкаського державного технологічного університету, Vol 1, Iss 3, Pp 21-26 (2018)
Currently leading manufacturers of electronic components serially produce a rather extensive list of elements, in which various microelectromechanical structures are included, such as various accelerometers, which are produced by millions of copies,
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/cfbaa1b6b7bc42b085abf57ce414626e
Autor:
С. Ф. Петренко, О. Г. Новаковський, Віктор Степанович Антонюк, Є. В. Скорина, Юлія Юріївна Бондаренко
Publikováno v:
Вісник Черкаського державного технологічного університету, Vol 1, Iss 1, Pp 5-13 (2018)
The article briefly describes the principle and operating modes of atomic-force microscope (AFM), as well as the features of microgeometry and surface properties of dielectric materials for micro and nanoelectronics using AFM method. The purpose of t
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/41a644f722a24146878df2fe3fa32b21
Publikováno v:
Vіsnik Naukovih Doslіdžen', Vol 0, Iss 1 (2018)
The article presents the results of the study of the tooth enamel surface using atomic force microscopy. The aim of the study – application of atomic force microscopy to study the topography of the surface of a normal tooth enamel. Materials and
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/9025b50859dc47b48b302460a8fa20f3
Autor:
С. О. Білокінь
Publikováno v:
Вісник Черкаського державного технологічного університету, Vol 1, Iss 1 (2016)
В роботі описано методику модифікування зондів атомно-силового мікроскопа методом термовакуумного осадження з подальшою електронною
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/c0163c8b951d4d0e9784a30c32a34221
Autor:
Gosavi, S.R.
У роботі тонкі плівки селеніду міді (Cu2-xSe) були виготовлені на підкладці з аморфного скла методом хімічного осадження у ванні (CBD) при кім
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______2001::42227aabafe276f42b6935b7ad6775fb
https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/89192
https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/89192
The influence of deposited Al, Pd, Co, Au, Ni atoms on a single-layer graphene substrate is investigated using computer simulations. The computer modelling of spraying nanoparticles on the basis of molecular dynamics method is implemented using the N
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::5dd4c497d755cd24f7e952246bc87997
https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/88966
https://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/88966
Publikováno v:
Вісник Черкаського державного технологічного університету; № 3 (2021): Вісник Черкаського державного технологічного університету; 24-35
Bulletin of Cherkasy State Technological University; No. 3 (2021): VISNYK Cherkaskogo derzhavnogo tehnologichnogo universitetu; 24-35
Вестник Черкасского государственного технологического университета; № 3 (2021): Вісник Черкаського державного технологічного університету; 24-35
urn:2306:44553.2021
Bulletin of Cherkasy State Technological University; No. 3 (2021): VISNYK Cherkaskogo derzhavnogo tehnologichnogo universitetu; 24-35
Вестник Черкасского государственного технологического университета; № 3 (2021): Вісник Черкаського державного технологічного університету; 24-35
urn:2306:44553.2021
The results of solving the problem of accelerating the study of the characteristics of functional surfaces of mechatronic devices by atomic force microscopy through the use of multiprobe tools, which provides the necessary levels of accuracy and reli