Zobrazeno 1 - 2
of 2
pro vyhledávání: '"Т.M. Sabov"'
Autor:
Z.V. Maksimenko, P. M. Lytvyn, B. Romanyuk, Т.M. Sabov, О.Yo. Gudymenko, О.V. Dubikovskyi, O.A. Kulbachynskyi, О.O. Efremov, V. P. Kladko, Viktor Melnik, О.I. Liubchenko, О.V. Kosulya
Publikováno v:
Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. 24:362-371
VOx films deposited using the multistep method have been investigated. These films were deposited by repeating the two-stage method of low-temperature deposition – low-temperature annealing. The structure and characteristics of VOx thin films have
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::497f5a4924d485b7df6b01c2aff451eb
https://doi.org/10.15407/spqeo24.04.362
https://doi.org/10.15407/spqeo24.04.362
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.