Výsledky vyhledávání - "Спектральна еліпсометрія"

Визначення оптичних характеристик нанопокриттів з використанням перетворення Лоренца

Autor: S. Rozouvan, Serhiy Kondratenko, L. Poperenko, V. Prorok

Формалізм перетворення Лоренца зі спеціальної теорії відносності застосовувався до описання інтерференції світла в плівках товщиною �

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::44c52f814c1fc6e070d8dc64c8816191
http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/73605

Zobrazit plný text záznamu

Multiangular and spectral ellipsometry for semiconductor nanostructures classification

Autor: Andrey Goloborodko, Epov, M. V., Robur, L. Y., Rodionova, T. V.

Publikováno v: Scopus-Elsevier

Досліджені можливості багатопараметричного визначення напівпровідникових наноструктур на основі спектральних залежностей поляризов

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::bc423e9878ff2df111de1ca9ce0268e9
http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-84903217534&partnerID=MN8TOARS

Zobrazit plný text záznamu