Zobrazeno 1 - 2
of 2
pro vyhledávání: '"Лукьяненко, A. В."'
Publikováno v:
Electronic Processing of Materials / Elektronnaya Obrabotka Materialov; 2023, Vol. 59 Issue 6, p25-34, 10p
Сканирующая зондовая микроскопия может быть использована не только для анализа и характеристики поверхности, но и для еѐ модификации з
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______917::de99dd662109b18a621270bfac9f54fd
https://hdl.handle.net/10995/104079
https://hdl.handle.net/10995/104079