Silicon detectors for the sLHC

Autor: Affolder, A., Aleev, A., Allport, P.P., Andricek, L., Artuso, M., Balbuena, J.P., Barabash, L., Barber, T., Barcz, A., Bassignana, D., Bates, R., Battaglia, M., Beimforde, M., Bernardini, J., Betancourt, C., Bilei, G.M., Bisello, D., Blue, A., Bohm, J., Bolla, G., Borgia, A., Borrello, L., Bortoletto, D., Boscardin, M., Bosma, M.J., Bowcock, T.J.V., Breindl, M., Broz, J., Bruzzi, M., Brzozowski, A., Buhmann, P., Buttar, C., Campabadal, F., Candelori, A., Casse, G., Charron, S., Chren, D., Cihangir, S., Cindro, V., Collins, P., Cortina Gil, E., Costinoaia, C.A., Creanza, D., Cristobal, C., Dalla Betta, G.-F., de Boer, W., De Palma, M., Demina, R., Dierlamm, A., Díez, S., Dobos, D., Doherty, F., Dolenc Kittelmann, I., Dolezal, Z., Dolgolenko, A., Dragoi, C., Driewer, A., Dutta, S., Eckstein, D., Eklund, L., Eremin, I., Eremin, V., Erfle, J., Fadeeva, N., Fahrer, M., Fiori, F., Fleta, C., Focardi, E., Forshaw, D., Fretwurst, E., Frey, M., Bates, A.G., Gallrapp, C., Garcia, C., Gaubas, E., Genest, M.-H., Giolo, K., Glaser, M., Goessling, C., Golubev, A., Gorelov, I., Grégoire, G., Gregori, P., Grigoriev, E., Grillo, A.A., Grinstein, S., Groza, A., Guskov, J., Hansen, T.E., Härkönen, J., Hartjes, F.G., Hartmann, F., Hoeferkamp, M., Horisberger, R., Houdayer, A., Hynds, D., Ilyashenko, I., Junkes, A., Kadys, A., Kaminski, P., Karpenko, A., Kaska, K., Kazuchits, N., Kazukauskas, V., Kharchuk, A., Khivrich, V., Kierstead, J., Klanner, R., Klingenberg, R., Kodys, P., Koffeman, E., Köhler, M., Kohout, Z., Korjenevski, S., Korolkov, I., Kozlowski, R., Kozubal, M., Kramberger, G., Kühn, S., Kuleshov, S., Kuznetsov, A., Kwan, S., La Rosa, A., Lacasta, C., Lange, J., Lassila-Perini, K., Lastovetsky, V., Lazanu, I., Lazanu, S., Lebel, C., Lefeuvre, G., Lemaitre, V., Leroy, C., Li, Z., Lindström, G., Litovchenko, A., Litovchenko, P., Lozano, M., Luczynski, Z., Luukka, P., Macchiolo, A., Macraighne, A., Mäenpää, T., Makarenko, L.F., Mandic, I., Maneuski, D., Manna, N., Marco, R., Marti i Garcia, S., Marunko, S., Masek, P., Mathieson, K., Matysek, M., Mekki, J., Messineo, A., Metcalfe, J., Mikestikova, M., Mikuž, M., Militaru, O., Minano, M., Miyamoto, J., Moll, M., Monokhov, E., Mori, R., Moser, H.-G., Muenstermann, D., Munoz Sanchez, F.J., Naletko, A., Nisius, R., OShea, V., Pacifico, N., Pantano, D., Parkes, C., Parzefall, U., Passeri, D., Pawlowski, M., Pellegrini, G., Pernegger, H., Petasecca, M., Piemonte, C., Pignatel, G.U., Pintilie, I., Pintilie, L., Piotrzkowski, K., Placekett, R., Pöhlsen, Th., Polivtsev, L., Popule, J., Pospisil, S., Preiss, J., Radicci, V., Radu, R., Raf, J.M., Rando, R., Richter, R., Roeder, R., Roger, R., Rogozhkin, S., Rohe, T., Ronchin, S., Rott, C., Roy, A., Rummler, A., Ruzin, A., Sadrozinski, H.F.W., Sakalauskas, S., Samadashvili, N., Scaringella, M., Schumm, B., Seidel, S., Seiden, A., Shipsey, I., Sibille, J., Sicho, P., Slavicek, T., Solar, M., Soldevila-Serrano, U., Son, S., Sopko, V., Sopko, B., Spencer, N., Spiegel, L., Srivastava, A., Steinbrueck, G., Stewart, G., Stolze, D., Storasta, J., Surma, B., Svensson, B.G., Tan, P., Tomasek, M., Toms, K., Tsiskaridze, S., Tsvetkov, A., Tuboltsev, Yu., Tuominen, E., Tuovinen, E., Tuuva, T., Tylchin, M., Uebersee, H., Ullán, M., Vaitkus, J.V., van Beuzekom, M., Verbitskaya, E., Vila Alvarez, I., Visser, J., Vossebeld, J., Vrba, V., Walz, M., Weigell, P., Wiik, L., Wilhelm, I., Wunstorf, R., Zaluzhny, A., Zavrtanik, M., Zelazko, J., Zen, M., Zhukov, V., Zontar, D., Zorzi, N.

Publikováno v: In Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, A 2011 658(1):11-16

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Photoinduced transient spectroscopy of defect centers in GaN and SiC.

Autor: Kamiński, P., Kozłowski, R., Kozubal, M., Żelazko, J., Miczuga, M., Pawłowski, M.

Publikováno v: Semiconductors; Apr2007, Vol. 41 Issue 4, p414-420, 7p, 1 Diagram, 2 Charts, 8 Graphs

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.