Zobrazeno 1 - 10
of 183
pro vyhledávání: '"Šmíd, R."'
Autor:
Hucl, V., Cizek, M., Hrabina, J., Mikel, B., Rerucha, S., Buchta, Z., Jedlicka, P., Lesundak, A., Oulehla, J., Mrna, L., Sarbort, M., Smid, R., Lazar, J., Cip, O.
Publikováno v:
SPIE 8788, Optical Measurement Systems for Industrial Inspection VIII, 878837 (13 May 2013)
In scanning probe microscopy laser interferometers are usually used for measuring the position of the probe tip with a metrological traceability. As the most of the AFM setups are designed to work under standard atmospheric conditions the changes of
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2210.13223
Publikováno v:
Measurement Science Review, Vol 8, Iss 2, Pp 42-45 (2008)
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/6da26a2fe9654c5a81b70294c9eb80f6
Publikováno v:
Measurement Science Review, Vol 8, Iss 5, Pp 114-117 (2008)
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/d7f3ae75230b4714b97a9c48c8fc4f8e
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Computer Methods and Programs in Biomedicine 2009 93(3):292-296
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; Nov2008 Part 2, Issue 1, p69950M-69950M-8, 8p