Zobrazeno 1 - 5
of 5
pro vyhledávání: '"Świadkowski, Bartosz"'
Autor:
PRUCHNIK, Bartosz, SIKORA, Andrzej, GAJEWSKI, Krzysztof, ŚWIADKOWSKI, Bartosz, SMAGOWSKI, Piotr, BADURA, Dominik, KWOKA, Krzysztof, PIASECKI, Tomasz, GOTSZALK, Teodor
Publikováno v:
Przegląd Elektrotechniczny; 2024, Issue 6, p200-204, 5p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Świadkowski Bartosz, Piasecki Tomasz, Rudek Maciej, Świątkowski Michał, Gajewski Krzysztof, Majstrzyk Wojciech, Babij Michał, Dzierka Andrzej, Gotszalk Teodor
Publikováno v:
Metrology and Measurement Systems, Vol 27, Iss 1, Pp 119-130 (2020)
Scanning probe microscopy (SPM) since its invention in the 80’s became very popular in examination of many different sample parameters, both in university and industry. This was the effect of bringing this technology closer to the operator. Althoug
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/c722ce4fa6394424ac7d84d8eb1b123c
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.