Zobrazeno 1 - 10
of 49
pro vyhledávání: '"Łaszcz, Adam"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Piotrowska, Anna Katarzyna1 (AUTHOR) anna.piotrowska2@imif.lukasiewicz.gov.pl, Łaszcz, Adam1 (AUTHOR), Zaborowski, Michał1 (AUTHOR), Broda, Artur1 (AUTHOR), Szmigiel, Dariusz1 (AUTHOR)
Publikováno v:
Sensors (14248220). Dec2022, Vol. 22 Issue 23, p9324. 9p.
Autor:
Reckinger, Nicolas, Bayot, Xiaohui Tang Vincent, Yarekha, Dmitri A., Dubois, Emmanuel, Godey, Sylvie, Wallart, Xavier, Larrieu, Guilhem, Laszcz, Adam, Ratajczak, Jacek, Jacques, Pascal J., Raskin, Jean-Pierre
Publikováno v:
Applied Physics Letters 94, 191913, 2009
The evolution of the Schottky barrier height (SBH) of Er silicide contacts to n-Si is investigated as a function of the annealing temperature. The SBH is found to drop substantially from 0.43 eV for the as-deposited sample to reach 0.28 eV, its lowes
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1110.5506
Autor:
Reckinger, Nicolas, Tang, Xiaohui, Godey, Sylvie, Dubois, Emmanuel, Laszcz, Adam, Ratajczak, Jacek, Vlad, Alexandru, Dutu, Constantin Augustin, Raskin, Jean-Pierre
Publikováno v:
Journal of The Electrochemical Society, 158, H715-H723, 2011
The chemical changes of Ti/Er/n-Si(100) stacks evaporated in high vacuum and grown ex situ by rapid thermal annealing were scrutinized. The emphasis was laid on the evolution with the annealing temperature of (i) the Er-Si solid-state reaction and (i
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1110.5501
Autor:
Czerwinski, Andrzej, Pluska, Mariusz, Łaszcz, Adam, Ratajczak, Jacek, Pierściński, Kamil, Pierścińska, Dorota, Gutowski, Piotr, Karbownik, Piotr, Bugajski, Maciej
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability August-September 2015 55(9-10):2142-2146
Publikováno v:
Polish Journal of Chemical Technology, Vol 16, Iss 3, Pp 40-44 (2014)
The capabilities and applications of the focused ion beam (FIB) technology for detection of an electrochemical signal in nanoscale area are shown. The FIB system, enabling continuous micro- and nanofabrication within only one equipment unit, was used
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/6f6b312022f34b0fb766aec5d333f412
Autor:
Kamińska, Izabela, Opallo, Marcin, Łaszcz, Adam, Czerwinski, Andrzej, Niedziolka-Jonsson, Joanna
Publikováno v:
In Electrochimica Acta 1 September 2013 106:165-171
Autor:
Łaszcz Adam, Ratajczak Jacek, Czerwinski Andrzej, Kątcki Jerzy, Breil Nicolas, Larrieu Guilhem, Dubois Emmanuel
Publikováno v:
Open Physics, Vol 9, Iss 2, Pp 423-427 (2011)
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/13a3a1634de84111b3f583d2bf315856
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Vacuum 2008 82(10):977-981