Zobrazeno 1 - 6
of 6
pro vyhledávání: '"İlik, Sadık"'
This paper presents an extensive characterization of the low-frequency noise (LFN) at room temperature (RT) and cryogenic temperature (4.2 K) of 40-nm bulk-CMOS transistors. The noise is measured over a wide range of bias conditions and geometries to
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2405.17685
Autor:
İlik, Sadık, Gencer, Fikret Başar, Solmaz, Nergiz Şahin, Çağlar, Alican, Yelten, Mustafa Berke
Publikováno v:
In Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, B 15 June 2019 449:1-5
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.