Wafer-scale graphene quality assessment using micro four-point probe mapping

Autor: Mackenzie, D., Kalhauge, K., Whelan, P., Østergaard, F., Pasternak, I., Strupinski, W., Bøggild, P., Jepsen, P., Petersen, D.

Publikováno v: Mackenzie, D M A, Kalhauge, K G, Whelan, P R, Østergaard, F W, Pasternak, I, Strupinski, W, Bøggild, P, Jepsen, P U & Petersen, D H 2020, ' Wafer-scale graphene quality assessment using micro four-point probe mapping ', Nanotechnology, vol. 31, no. 22, 225709 . https://doi.org/10.1088/1361-6528/ab7677

openaire: EC/H2020/785219/EU//GrapheneCore2 Micro four-point probes (M4PP) provide rapid and automated lithography-free transport properties of planar surfaces including two-dimensional materials. We perform sheet conductance wafer maps of graphene d

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::3c0a4176564382a9686021e4032c9fa3
https://orbit.dtu.dk/en/publications/2e9239c4-c643-4c1f-b48e-76ebef91e072

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.