Zobrazeno 1 - 10
of 21
pro vyhledávání: '"Shi, Yijun"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Jiang, Jie, Chen, Qiuqi, Hu, Shengdong, Shi, Yijun, He, Zhiyuan, Huang, Yun, Hui, Caixin, Chen, Yiqiang, Wu, Hao, Lu, Guoguang
Publikováno v:
Materials (1996-1944); Feb2023, Vol. 16 Issue 4, p1484, 14p
Autor:
Hui, Caixin, Chen, Qiuqi, Shi, Yijun, He, Zhiyuan, Huang, Yun, Lu, Xiangjun, Wang, Hongyue, Jiang, Jie, Lu, Guoguang
Publikováno v:
Micromachines; Dec2022, Vol. 13 Issue 12, p2101, 10p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Journal of Electronic Materials; Nov2021, Vol. 50 Issue 11, p6291-6296, 6p
Autor:
Shi, Yijun1 (AUTHOR), Chen, Wanjun1 (AUTHOR) wjchen@uestc.edu.cn, Sun, Ruize1 (AUTHOR) sun.ruize@u.nus.edu, Liu, Chao1 (AUTHOR), Xia, Yun1 (AUTHOR), Xin, Yajie1 (AUTHOR), Xu, Xiaorui1 (AUTHOR), Wang, Fangzhou1 (AUTHOR), Deng, Xiaochuan1 (AUTHOR), Chen, Tangsheng1 (AUTHOR), Zhang, Bo1 (AUTHOR)
Publikováno v:
IEEE Transactions on Electron Devices. Oct2019, Vol. 66 Issue 10, p4164-4169. 6p.
Autor:
Shi, Yijun, Chen, Wanjun, Cui, Xingtao, Li, Maoling, Liu, Chao, Xia, Yun, Li, Jia, Wang, Fangzhou, Xin, Yajie, Zhou, Qi, Deng, Xiaochuan, Li, Zhaoji, Zhang, Bo
Publikováno v:
IEEE Transactions on Electron Devices. Dec2018, Vol. 65 Issue 12, p5322-5328. 7p.
Autor:
Shi, Yijun1 syj20094870@sina.com, Chen, Wanjun1, Wu, Shan2, Liu, Chao1, Xia, Yun1, Li, Maolin1, Cui, Xingtao1, Chen, Tangsheng3, Zhou, Qi1, Deng, Xiaochuan1, Zhang, Bo1
Publikováno v:
Superlattices & Microstructures. Feb2019, Vol. 126, p174-180. 7p.
Autor:
Zhang, Anbang, Zhou, Qi, Shi, Yuanyuan, Yang, Chao, Shi, Yijun, Yang, Yi, Zhu, Liyang, Chen, Wanjun, Li, Zhaoji, Zhang, Bo
Publikováno v:
IEEE Transactions on Electron Devices; Jun2018, Vol. 65 Issue 6, p2660-2665, 6p