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Autor:
Alcayne, V., Cano-Ott, D., Garcia, J., González-Romero, E., Martínez, T., Rada, A. Pérez de, Plaza, J., Sánchez-Caballero, A., Balibrea-Correa, J., Domingo-Pardo, C., Lerendegui-Marco, J., Casanovas, A., Calviño, F., Aberle, O., Altieri, S., Amaducci, S., Andrzejewski, J., Babiano-Suarez, V., Bacak, M., Beltrami, C., Bennett, S., Bernardes, A.P., Berthoumieux, E., Beyer, R., Boromiza, M., Bosnar, D., Caamaño, M., Calviani, M., Castelluccio, D.M., Cerutti, F., Cescutti, G., Chasapoglou, S., Chiaveri, E., Colombetti, P., Colonna, N., Camprini, P. Console, Cortés, G., Cortés-Giraldo, M.A., Cosentino, L., Dellmann, S., Di Castro, M., Di Maria, S., Diakaki, M., Dietz, M., Dressler, R., Dupont, E., Durán, I., Eleme, Z., Fargier, S., Fernández, B., Fernández-Domínguez, B., Finocchiaro, P., Fiore, S., Furman, V., García-Infantes, F., Gawlik-Ramiega, A., Gervino, G., Gilardoni, S., Guerrero, C., Gunsing, F., Gustavino, C., Heyse, J., Hillman, W., Jenkins, D.G., Jericha, E., Junghans, A., Kadi, Y., Kaperoni, K., Kaur, G., Kimura, A., Knapová, I., Kokkoris, M., Kopatch, Y., Krtička, M., Kyritsis, N., Ladarescu, I., Lederer-Woods, C., Lerner, G., Manna, A., Masi, A., Massimi, C., Mastinu, P., Mastromarco, M., Maugeri, E.A., Mazzone, A., Mendoza, E., Mengoni, A., Michalopoulou, V., Milazzo, P.M., Mucciola, R., Murtas, F., Musacchio-Gonzalez, E., Musumarra, A., Negret, A., Pérez-Maroto, P., Patronis, N., Pavón-Rodríguez, J.A., Pellegriti, M.G., Perkowski, J., Petrone, C., Piersanti, L., Pirovano, E., Pomp, S., Porras, I., Praena, J., Quesada, J.M., Reifarth, R., Rochman, D., Romanets, Y., Rubbia, C., Sabaté-Gilarte, M., Schillebeeckx, P., Schumann, D., Sekhar, A., Smith, A.G., Sosnin, N.V., Spelta, M., Stamati, M.E., Sturniolo, A., Tagliente, G., Tarifeño-Saldivia, A., Tarrío, D., Torres-Sánchez, P., Vagena, E., Valenta, S., Variale, V., Vaz, P., Vecchio, G., Vescovi, D., Vlachoudis, V., Vlastou, R., Wallner, A., Woods, P.J., Wright, T., Zarrella, R., Žugec, P.
Publikováno v:
In Radiation Physics and Chemistry April 2024 217
Autor:
Martinella, C., Natzke, P., Alia, R.G., Kadi, Y., Niskanen, K., Rossi, M., Jaatinen, J., Kettunen, H., Tsibizov, A., Grossner, U., Javanainen, A.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability January 2022 128
Autor:
Alcayne, V., Cano-Ott, D., Garcia, J., González-Romero, E., Martínez, T., Pérez de Rada, A., Plaza, J., Sánchez-Caballero, A., Balibrea-Correa, J., Domingo-Pardo, C., Lerendegui-Marco, J., Casanovas, A., Calviño, F., Aberle, O., Altieri, S., Amaducci, S., Andrzejewski, J., Babiano-Suarez, V., Bacak, M., Beltrami, C., Bennett, S., Bernardes, A.P., Berthoumieux, E., Beyer, R., Boromiza, M., Bosnar, D., Caamaño, M., Calviani, M., Castelluccio, D.M., Cerutti, F., Cescutti, G., Chasapoglou, S., Chiaveri, E., Colombetti, P., Colonna, N., Console Camprini, P., Cortés, G., Cortés-Giraldo, M.A., Cosentino, L., Dellmann, S., Di Castro, M., Di Maria, S., Diakaki, M., Dietz, M., Dressler, R., Dupont, E., Durán, I., Eleme, Z., Fargier, S., Fernández, B., Fernández-Domínguez, B., Finocchiaro, P., Fiore, S., Furman, V., García-Infantes, F., Gawlik-Ramiega, A., Gervino, G., Gilardoni, S., Guerrero, C., Gunsing, F., Gustavino, C., Heyse, J., Hillman, W., Jenkins, D.G., Jericha, E., Junghans, A., Kadi, Y., Kaperoni, K., Kaur, G., Kimura, A., Knapová, I., Kokkoris, M., Kopatch, Y., Krtička, M., Kyritsis, N., Ladarescu, I., Lederer-Woods, C., Lerner, G., Manna, A., Masi, A., Massimi, C., Mastinu, P., Mastromarco, M., Maugeri, E.A., Mazzone, A., Mendoza, E., Mengoni, A., Michalopoulou, V., Milazzo, P.M., Mucciola, R., Murtas, F., Musacchio-Gonzalez, E., Musumarra, A., Negret, A., Pérez-Maroto, P., Patronis, N., Pavón-Rodríguez, J.A., Pellegriti, M.G., Perkowski, J., Petrone, C., Piersanti, L., Pirovano, E., Pomp, S., Porras, I., Praena, J., Quesada, J.M., Reifarth, R., Rochman, D., Romanets, Y., Rubbia, C., Sabaté-Gilarte, M., Schillebeeckx, P., Schumann, D., Sekhar, A., Smith, A.G., Sosnin, N.V., Spelta, M., Stamati, M.E., Sturniolo, A., Tagliente, G., Tarifeño-Saldivia, A., Tarrío, D., Torres-Sánchez, P., Vagena, E., Valenta, S., Variale, V., Vaz, P., Vecchio, G., Vescovi, D., Vlachoudis, V., Vlastou, R., Wallner, A., Woods, P.J., Wright, T., Zarrella, R., Žugec, P.
Publikováno v:
In Radiation Physics and Chemistry July 2024 220
Autor:
Romanets, Y., Bermudez, J., David, J.C., Ene, D., Goncalves, I.F., Kadi, Y., Kharoua, C., Luis, R., Negoita, F., Rocca, R., Tecchio, L., Vaz, P.
Publikováno v:
In Radiation Measurements 2010 45(10):1350-1354
Autor:
Colonna, N., Abbondanno, U., Aerts, G., Álvarez, H., Álvarez-Velarde, F., Andriamonje, S., Andrzejewski, J., Assimakopoulos, P., Audouin, L., Badurek, G., Baumann, P., Becvar, F., Berthoumieux, E., Calviani, M., Calviño, F., Cano-Ott, D., Capote, R., Carrillo de Albornoz, A., Cennini, P., Chepel, V., Chiaveri, E., Cortes, G., Couture, A., Cox, J., Dahlfors, M., David, S., Dillman, I., Dolfini, R., Domingo-Pardo, C., Dridi, W., Duran, I., Eleftheriadis, C., Ferrant, L., Ferrari, A., Ferreira-Marques, R., Frais-Koelbl, H., Fujii, K., Furman, W., Goncalves, I., González-Romero, E., Goverdovski, A., Gramegna, F., Griesmayer, E., Guerrero, C., Gunsing, F., Haas, B., Haight, R., Heil, M., Herrera-Martinez, A., Igashira, M., Isaev, S., Jericha, E., Käppeler, F., Kadi, Y., Karadimos, D., Karamanis, D., Kerveno, M., Ketlerov, V., Koehler, P., Konovalov, V., Kossionides, E., Krticka, M., Lampoudis, C., Leeb, H., Lindote, A., Lopes, I., Lozano, M., Lukic, S., Marganiec, J., Marques, L., Marrone, S., Martínez, T., Massimi, C., Mastinu, P., Mengoni, A., Milazzo, P.M., Moreau, C., Mosconi, M., Neves, F., Oberhummer, H., O’Brien, S., Oshima, M., Pancin, J., Papachristodoulou, C., Papadopoulos, C., Paradela, C., Patronis, N., Pavlik, A., Pavlopoulos, P., Perrot, L., Pigni, M.T., Plag, R., Plompen, A., Plukis, A., Poch, A., Pretel, C., Quesada, J., Rauscher, T., Reifarth, R., Rosetti, M., Rubbia, C., Rudolf, G., Rullhusen, P., Salgado, J., Sarchiapone, L., Savvidis, I., Stephan, C., Tagliente, G., Tain, J.L., Tassan-Got, L., Tavora, L., Terlizzi, R., Vannini, G., Vaz, P., Ventura, A., Villamarin, D., Vicente, M.C., Vlachoudis, V., Vlastou, R., Voss, F., Walter, S., Wendler, H., Wiescher, M., Wisshak, K.
Publikováno v:
In Applied Radiation and Isotopes 2010 68(4):643-646