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Publikováno v:
Microelectronics Reliability; 1999, Vol. 39 Issue: 4 p497-505, 9p
Autor:
Ackermann, K.H., Adams, N., Adler, C., Aluyshin, M., Ananeva, M.A., Anderson, M., Averichev, G., Bacher, A., Balewski, J., Balrannikova, O., Baudot, J., Bekele, S., Bellwied, R., Bennett, S., Berger, J., Betts, W., Bichsel, H., Bieser, F., Bland, L., Blyth, C., Bogdanov, A., Bonner, B.E., Bossingham, R., Boucham, A., Bouvier, S., Brady, F.P., Braithwaite, E., Braithwaite, W., Brown, R.L., Budilov, V., Byrd, C., Caines, H., Carlin, N., Carroll, J., Cebra, D., Chen, M.-L., Chen, W., Chen, Y., Chernenko, S., Cherney, M., Chikanian, A., Chrin, J.T.M., Christie, W., Coffin, J.-P., Conin, L., Cormier, T.M., Cramer, J., Crawford, H.J., Das, A., Deng, W., Derevschikov, A.A., Didenko, L., Dominik, W., Draper, J.E., Dunin, V., Dunlop, J., Dyke, H., Edwards, W.R., Eckardt, V., Efremov, A.V., Emelianov, V., Engelage, J., Eppley, G., Erazmus, B., Etkin, A., Fachini, P., Faine, V., Ferguson, M.I., Fessler, H., Finch, E., Fisyak, Y., Flierl, D., Foley, K.J., Fritz, D., Gagunashvili, N., Germain, M., Ghazikhanian, V., Gilkes, M., Giliberto, S., Grabski, J., Grachov, O., Greiner, D., Greiner, L.C., Grigoriev, V., Gushin, E., Gutbrod, H., Hallman, T.J., Hardtke, D., Harris, J.W., Heffner, M., Heppelmann, S., Hirsch, A., Hjort, E., Hoffmann, G.W., Horsley, M., Huang, H., Humanic, T., Huemmler, H., Huyck, T., Igo, G.J., Ivanshin, Yu.I., Jacobs, P., Jacobs, W., Jacobson, S., Jared, R., Jones, P., Judd, E.G., Jundt, F., Kaplan, M., Kaplin, V., Keane, D., Khodyrev, V., Klay, J., Klein, S., Kolobashkina, L., Konstantinov, A., Kotchenda, L., Kotov, I., Kramer, M., Kravtsov, P., Kuhn, C., Kunde, G.J., Kutuev, R., Lamont, M., Lange, J.S., Lasiuk, B., Laue, F., Lebedev, A., Lee, Z., LeCompte, T., Leonhardt, B., Leontiev, V., Leszczynski, LeVine, M.J., Li, Q., Li, Z., Liaw, C.J., Lin, J., Lindenbaum, S.J., Liu, H., Lisa, M., Ljubicic, A., Llope, W., LoCurto, G., Long, H., Longacre, R.S., Love, W.A., Lutz, J.R., Lynn, D., Madansky, L., Majka, R., Makarenko, T.M., Maliszewski, A., Margetis, S., Marks, K., Martin, L., Marx, J., Matis, H.S., Matulenko, Yu., McShane, T.S., Meshanin, A., Melnik, Yu., Michalon, A., Miller, B., Milosevich, Z., Minaev, N., Minor, R.M., Mitchell, J., Moiseenko, V.A., Moltz, D., Moore, C.F., Munhoz, M.G., Mutchler, G.S., Nelson, J.M., Nevski, P., Nikitin, V., Nilsen, B., Nogach, L., Nurushev, S., Nystrand, J., Odyniec, G., Ogawa, A., Ogilvie, C.A., Okorokov, V., Olson, D., Oltchak, A., Ott, G., Paic, G., Pandey, S., Panebratsev, Y., Panitkin, S.Y., Pavlinov, A., Pawlak, T., Peryt, W., Perevoztchikov, V., Petrov, V.A., Petukhov, Yu., Pinganaud, W., Platner, E., Pluta, J., Porile, N., Porter, J., Poskanzer, A.M., Przewlocki, M., Prindle, D., Potrebenikova, E., Pruneau, C., Rai, G., Ravel, O., Ray, R.L., Razin, D., Razin, S., Reid, J., Retiere, F., Ridiger, A., Riso, J., Ritter, H.-G., Roberts, J.B., Roehrich, D., Rogachevskiy, O., Rollefson, A., Romero, J.L., Roy, C., Runco, M., Russ, D.E., Rykov, V., Sakrejda, I., Saltz, P., Sandweiss, J., Saulys, A.C., Savin, I., Schambach, J.J., Scharenberg, R.P., Schmitz, N., Schroeder, L.S., Schuettauf, A., Schulz, M., Seger, J., Seliverstov, D., Seyboth, J., Seyboth, P., Shalnov, A., Shestermanov, K., Shi, Y., Shvetsov, V.S., Silin, I.N., Smirnoff, N., Snellings, R., Soloviev, L., Sowinski, J., Spinka, H.M., Srivastava, B., Stephenson, E., Stock, R., Strikhanov, M., Stringfellow, B., Stroebele, H., Struck, C., Sugarbaker, E., Suire, C., Sustich, A., Symons, T.J., Szanto, E.M., Toledo, A. Szanto de, Takahashi, J., Tang, A., Thein, D., Thomas, J.H., Tikhomirov, V., Tikhonov, V., Tonjes, M.B., Trainor, T., Trentalange, S., Tokarev, M., Trofimov, V., Tsai, O., Tull, C., Turner, K., Ullrich, T., Underwood, D.G., VanBuren, G., VanderMolen, A.M., Vanyashin, A., Vasiliev, A., Vasilevski, I.M., Vigdor, S., Voloshin, S., Vu, C.Q., Wang, F., Ward, H.J., Weerasundra, D., Wells, R., Wells, R., Wenaus, T., Westfall, G.D., Whitfield, J.P., Whitten, C., Wieman, H., Willson, R., Wissink, S., Witt, R., Wood, L., Xu, N., Xu, Z., Yakutin, A., Yamamoto, E., Yang, J., Yepes, P., Yokosawa, A., Yurevich, V., Zhang, J., Zhang, W.M., Zhidkov, N., Zimmerman, D., Zoulkarneev, R., Zubarev, A.
Publikováno v:
Nuclear Physics A; December 1999, Vol. 661 Issue: 1-4 p681-685, 5p
Publikováno v:
Atomic Energy; July 1957, Vol. 3 Issue: 7 p771-775, 5p
Autor:
Ahmad, S., Beilin, A.F., Belyanchenko, S.A., Blinnikov, Yu.S., Bonner, B., Grigoriev, V.A., Gusev, Yu.I., Dukhor, S.G., Kaplin, V.A., Karakash, A.I., Kleshneva, T.Yu., Levchenko, L.A., Lukyanov, V.A., Maklyaev, E.F., Mamaeva, G.A., Moroz, F.V., Mutcher, G., Platner, E., Seliverstov, D.M., Shalnov, A.V., Smolitsky, V.A., Strikhanov, M.N., Volkov, Yu.M., Wright, M., Yepes, P.
Publikováno v:
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A; March 1997, Vol. 387 Issue: 1-2 p43-44, 2p
Publikováno v:
Atomic Energy; November 1957, Vol. 2 Issue: 6 p675-676, 2p