Souborný katalog AV ČR
Odhlásit
Přihlášení
Jazyk
English
Čeština
Instituce
Knihovna AV ČR
Souborný katalog AV ČR
Archeologický ústav Brno
Archeologický ústav Praha
Astronomický ústav
Biofyzikální ústav
Botanický ústav
Etnologický ústav
Filosofický ústav
Fyzikální ústav
Fyziologický ústav
Geofyzikální ústav
Geologický ústav
Historický ústav
Masarykův ústav
Matematický ústav
Orientální ústav
Psychologický ústav
Slovanský ústav
Sociologický ústav
Ústav analytické chemie
Ústav anorganické chemie
Ústav pro českou literaturu
Ústav dějin umění
Ústav fyziky atmosféry
Ústav fotoniky a elektroniky
Ústav fyzikální chemie J. H.
Ústav fyziky materiálů
Ústav geoniky
Ústav pro hydrodynamiku
Ústav chemických procesů
Ústav informatiky
Ústav pro jazyk český
Ústav jaderné fyziky
Ústav makromolekulární chemie
Ústav pro soudobé dějiny
Ústav přístrojové techniky
Ústav státu a práva
Ústav struktury a mechaniky hornin
Ústav teoretické a aplikované mechaniky
Ústav teorie informace a automatizace
Ústav výzkumu globální změny
×
Všechna pole
Název
Autor
Předmět
Signatura
Čárový kód
ISBN/ISSN
Systémové číslo
Konspekt
Hledat
Pokročilé vyhledávání
Autor
Ohlídal, Ivan
Zobrazeno
1
-
10
of
21
pro vyhledávání:
'Ohlídal, Ivan'
Řazení
podle relevance
od nejnovějšího
od nejstaršího
podle autora
podle názvu
Vybrat vše | Vybrané výsledky:
Poslat e-mailem
Exportovat
Vytisknout
Vybrat výsledek číslo 1
1
Vliv technologických podmínek termické oxidace povrchů monokrystalu GaAs na jejich morfologii /
Autor
Ohlídal, Ivan, 1945-
Vydáno: 2006
Další autoři:
„
...
Ohlídal, Ivan
, 1945- ...
“
Článek
načítá se...
Vybrat výsledek číslo 2
2
Aplikace mikroskopie atomové síly při analýze tenkých vrstev ZnSe a ZnTe /
Autor
Ohlídal, Ivan, 1945-
Vydáno: 2003
Další autoři:
„
...
Ohlídal, Ivan
, 1945- ...
“
Článek
načítá se...
Vybrat výsledek číslo 3
3
Měření mechanického napětí v tenkých vrstvách pomocí kombinované optické metody = Stress measurement in thin layers with aid of combined optical method /
Autor
Ohlídal, Ivan, 1945-
Vydáno: 2005
Článek
načítá se...
Vybrat výsledek číslo 4
4
3. mezinárodní seminář o analýze dat rastrovací sondové mikroskopie = Third international workshop on data analysis of scanning probe microsocpy /
Autor
Ohlídal, Ivan, 1945-
Vydáno: 2005
Článek
načítá se...
Vybrat výsledek číslo 5
5
Symposium SPIE: Optical Systems Design (12. - 16. září 2005, Jena, Německo) = SPIE symposium: Optical Systems Design (12th - 16th September 2005, Jena, Germany) / Ivan Ohlídal
Autor
Ohlídal, Ivan, 1945-
Vydáno: 2005
Článek
načítá se...
Vybrat výsledek číslo 6
6
Životní jubileum RNDr. Pavla Klenovského /
Autor
Ohlídal, Ivan, 1945-
Vydáno: 2002
Článek
načítá se...
Vybrat výsledek číslo 7
7
2nd International Workshop on Scanning Probe Microscopy /
Autor
Ohlídal, Ivan, 1945-
Vydáno: 2002
Článek
načítá se...
Vybrat výsledek číslo 8
8
Úplná optická charakterizace neabsorbujících dvojvrstev a trojvrstev pomocí víceúhlové elipsometrie /
Autor
Ohlídal, Ivan, 1945-
Vydáno: 1999
Článek
načítá se...
Vybrat výsledek číslo 9
9
International workshop on scanning probe microscopy /
Autor
Ohlídal, Ivan, 1945-
Vydáno: 1999
Článek
načítá se...
Vybrat výsledek číslo 10
10
Relationship between AFM and optical measurements at analyzing surface roughness /
Autor
Ohlídal, Ivan, 1945-
Vydáno: 1999
Článek
načítá se...
Vybrat vše | Vybrané výsledky:
Poslat e-mailem
Exportovat
Vytisknout
1
2
3
Další »
[3]
Vyhledávací nástroje:
RSS
Poslat e-mailem
Upřesnit vyhledávání
Rozšiřující filtry
Zahrnout články
Možnost výpůjčky
21
Jen do studovny
5
BFU.present
2
UI.absent
Typ dokumentu
21
Článek
Umístění
Externí sklad
Autor
20
Ohlídal, Ivan, 1945-
8
Klapetek, Petr
6
Franta, Daniel, 1970-
5
Ohlídal, Miloslav, 1950-
3
Šiler, Martin
2
Michálek, Aleš
2
Pražák, Dominik
2
Tykal, Miroslav
1
Buršík, Jiří, 1960-
1
Buršíková, Vilma, 1960-
1
Jákl, Miloš
1
Mišek, Ján
1
Navrátil, Karel
1
Ohlídal, Ivan
1
Pražák, DOminik
Zobrazit vše…
Jazyk
15
čeština
6
angličtina
Žánr
17
journal articles
17
články
3
reports
3
zprávy
1
festschriften
1
jubilejní články
Zobrazit vše…
Rok vydání
Od:
do:
×
načítá se......
