Výsledky hledání pro autora

Obálka

Applications of atomic force microscopy for thin film boundary measurements /

Autor Klapetek, Petr
Vydáno: 2002

Další autoři: „... Franta, Daniel, 1970- ...“

Článek

Obálka

Relationship between AFM and optical measurements at analyzing surface roughness /

Autor Ohlídal, Ivan, 1945-
Vydáno: 1999

Další autoři: „... Franta, Daniel, 1970- ...“

Článek

Obálka

Vliv technologických podmínek termické oxidace povrchů monokrystalu GaAs na jejich morfologii /

Autor Ohlídal, Ivan, 1945-
Vydáno: 2006

Další autoři: „... Franta, Daniel, 1970- ...“

Článek

Obálka

Aplikace mikroskopie atomové síly při analýze tenkých vrstev ZnSe a ZnTe /

Autor Ohlídal, Ivan, 1945-
Vydáno: 2003

Další autoři: „... Franta, Daniel, 1970- ...“

Článek

Obálka

Srovnání výsledků měření drsnosti povrchu dosažených vybranými optickými metodami a metodou profilometrickou /

Autor Ohlídal, Ivan, 1945-
Vydáno: 1998

Další autoři: „... Franta, Daniel, 1970- ...“

Článek

Obálka

Měření mechanického napětí v tenkých vrstvách pomocí kombinované optické metody = Stress measurement in thin layers with aid of combined optical method /

Autor Ohlídal, Ivan, 1945-
Vydáno: 2005

Další autoři: „... Franta, Daniel, 1970- ...“

Článek